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Ultima 超快時間相關單光子計數熒光壽命測試系統 TCSPC熒光壽命測試系統，用于測量低至5皮秒的熒光壽命Ultima系列時間相關單光子計數(TCSPC)熒光壽命測試系統，針對短發光壽命的測試而優化設計，可測量低至5皮秒的壽命。專用FluoroHub A+電子設備，提供最佳的電子計時單元分辨（<400fs/點）和超低電子計時單元抖動（<3ps RMS）。
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Partica LA-960V2 激光粒度分析儀 LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優異設計引領行業方向。其直觀的軟件、特有的附件和優異的性能將科學認知推向未知世界，是LA系列儀器的突破性演變。事業部:科學儀器產品分類:顆粒表征制造商:HORIBA, Ltd.
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Partica mini LA-350 激光粒度分析儀 HORIBA Partica mini LA-350激光粒度分析儀是一款性能高、價格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應用于漿料、礦物和造紙行業等多種領域。基于LA系列分析儀的先進光學設計，LA-350實現了高性能、易操作、低維護和高效益的優點。LA-350體積小巧(297 mm x 420 mm)，可以有效節省實驗室空間。除此之外，LA-350巧妙的設計、高質量
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ViewSizer 3000 多激光納米顆粒追蹤分析儀 (NTA) 采用多波長激光對外泌體、病毒等納米材料樣品中的所有顆粒進行完整、詳細的分析。外泌體、病毒和納米顆粒都具有較寬的粒徑分布，這使得傳統的納米顆粒追蹤分析 (NTA)儀無法準確測量它們的粒徑分布。ViewSizer 3000的三個激光器可同時工作，可在同一樣品中收集各種尺寸的最準確的分布和濃度信息。
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nanoPartica SZ-100V2 納米粒度及Zeta電位分析儀 納米粒度及Zeta電位分析儀先進的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設備就能表征納米顆粒的三個參數：粒徑、Zeta 電位和分子量。納米技術的研發是一個持續不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產品。
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Partica CENTRIFUGE CN-300離心式粒度分析儀 通過離心進行高分辨率粒度分布測量。CN-300 的測量范圍為 10 nm - 40 μm，可施加高達 30,000g 的離心力，并使用溫度控制為各種樣品產生準確的測量結果。根據客戶反饋開發并改進現有和新的 HORIBA 技術，其結果是提供安全可靠的操作，同時也易于使用的分析儀。
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SPRi-Arrayer SPRi Arrayer自動點樣儀 SPRi-Arrayer是一款自動點樣儀，它設計緊湊、便于移動。使用Xtend金屬陶瓷毛細管針，可對DNA、寡核苷酸、蛋白質、細菌和其他材料進行點樣，無交叉污染。SPRi-Arrayer包含微陣列設計軟件，并集成微陣列圖像處理和數據分析工具
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OpenPlex 高通量、免標記表面等離子體成像儀 OpenPleX高通量、開放式表面等離子體成像儀表面等離子體共振成像輕松完成OpenPlex 旨在滿足生物學家、生物化學家和生物物理學家的需求，是一個靈活的表面等離子體共振成像系統。OpenPlex 是您開發免標記和高通量生物檢測和分子檢測的伙伴。它是一款緊湊耐用的儀器，操作簡單，用途靈活。其開放式設計、專用芯片和多種模式使
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高速相機 pco.dicam C8八通道增強型sCMOS相機我們開發了功能更強大的pco.dicam C8——這套系統基于已經通過實際應用的考驗pco.dicam C4相機系統，為了增加其可采集圖像序列的長度，pco.dicam C8是我們順理成章的新產品。 在該系統中，由單個光輸入端進入系統的光信號被平均分配給8個圖像增強器，每個圖像增強器的直徑為25毫米（可選項：18毫米），最短門控時間為4 ns。系
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高速攝像機 ACS-1 M60 日本NAC Image Technology公司是全球著名的專業科研級高速攝像機廠商。作為全球率先（1958年）推出高速攝像機的公司，其產品已遍布世界各地，包含大學、科研機構汽車工業等單位。 日本NAC Image Technology公司針對1280×896（1.14M Pixel）像素級的高速攝像機，推出了市場上首款拍攝速度達到10萬fps（百萬像素下）的Memrecam
