先進(jìn)的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。
納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實(shí)現(xiàn)更快的測量速度、更好的設(shè)備性能以及更低的設(shè)備運(yùn)行能耗。納米技術(shù)在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學(xué)等很多領(lǐng)域發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
簡單快捷的納米顆粒多參數(shù)分析！
一臺設(shè)備、三種功能，可對每個(gè)測量參數(shù)進(jìn)行高靈敏度、高精度的分析。
概要：
粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 μm
SZ-100V2 系列采用動(dòng)態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實(shí)現(xiàn)了超寬濃度范圍的樣品測量，該系列可準(zhǔn)確測量低至ppm 級低濃度、高至百分之幾十的高濃度樣品。可使用市售的樣品池，也可實(shí)現(xiàn)對小體積樣品的測量。
Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV
使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值只需樣品100 μL，通過Zeta電位可預(yù)測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定，這對于產(chǎn)品配方的研究工作具有重大的意義。
分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da
通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強(qiáng)度并通過德拜記點(diǎn)法計(jì)算樣品的絕對分子量 (Mw) 和第二維里系數(shù) (A2 )。
SZ-100V2 系列具有良好的復(fù)雜信息處理能力和學(xué)習(xí)能力，可快速確定納米顆粒的特性！
SZ-100V2 系列具有雙光路設(shè)計(jì)，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時(shí)也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質(zhì)、聚合物等。
使用單臺設(shè)備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（最低容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。
配置：
SZ-100-S2 測量規(guī)格
| 型號 | SZ-100-S2（僅限粒徑和分子量測量） |
|---|---|
| 測量原理 | 粒度測量：動(dòng)態(tài)光散射 分子量測量：德拜記點(diǎn)法（靜態(tài)散射光強(qiáng)度） |
| 測量范圍 | 粒徑：0.3 nm 至 10 μm 分子量：1000 至 2 × 10 7 Da（德拜記點(diǎn)） 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1 |
| 最大樣品濃度 | 40%*2 |
| 粒度測量精度 | 以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測量精度為 ±2% （不包括標(biāo)準(zhǔn)顆粒本身的變化） |
| 測量角度 | 90°和173°（自動(dòng)或手動(dòng)選擇） |
| 樣品池 | 比色皿 |
| 測量時(shí)間 | 常規(guī)條件下約 2分鐘（從測量開始到顯示粒度測量結(jié)果） |
| 所需樣品量 | 12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異） |
| 分散劑 | 水、乙醇、有機(jī)溶劑 |
*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。
SZ-100-Z2 測量規(guī)格（粒度和分子量測量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）
| 型號 | SZ-100-Z2（帶Zeta電位測量單元） |
|---|---|
| 測量原理 | Zeta 電位測量：激光多普勒電泳 |
| 測量范圍 | -500 至 +500 mV |
| 適合測量的尺寸范圍 | 最小 2.0 nm，最大 100 μm *4 |
| 測量電導(dǎo)率范圍 | 0 至 20 S/m*5 |
| 最大樣品濃度 | 40% *6 |
| 樣品池 | 石墨電極電位樣品池 |
| 測量時(shí)間 | 常規(guī)條件下約 2分鐘 |
| 所需樣品量 | 100 μL |
| 分散劑 | 水 |
*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導(dǎo)率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。
儀器規(guī)格（SZ-100-S2 和 SZ-100-Z2）
| 測量單元光學(xué)系統(tǒng) | 光源：二極管泵浦倍頻激光器（532 nm，S2 / Z2 10 mW，HS2 / HZ2 100 mW） 檢測器：光電倍增管（PMT） |
|---|---|
| 激光分類 | 一級 |
| 工作溫度和濕度 | 15 - 35 °C，RH 85% 或更低（無冷凝） |
| 支架溫度控制溫度設(shè)置 | 0 - 90 °C（石墨電極電位樣品池控溫最高可達(dá) 70 °C） |
| 吹掃 | 可以連接干燥氣體吹掃端口管。 |
| 電源供應(yīng) | 交流 100 - 240 V，50/60 Hz，150 VA |
| 外觀尺寸 | 528 (W) x 385 (D) x 273 (H) mm（不包括突出部分） |
| 重量 | 25 kg |
| 電腦 | 帶有一個(gè)可用 USB 端口的 Windows 計(jì)算機(jī) |
| 界面 | USB 2.0（測量單元和 PC 之間） |
| 操作系統(tǒng) | Windows? 10 32/64 位 |
尺寸（毫米）
附件
粒徑測量樣品池
| 單元名稱 | 最小音量 | 溶劑 | |
|---|---|---|---|
| A | 一次性樣品池 | 1.2 mL | 水性 |
| B | 半微量池 | 500 μL | 水性，非水性 |
| C | 玻璃池 | 1.2 mL | 水性，非水性 |
| D | 一次性半微量池 | 600 μL | 水性 |
| E | 樣品池（帶蓋） | 1.2 mL | 水性，非水性 |
| F | 微量池（僅側(cè)面檢測） | 12 μL | 水性，非水性 |
| G | 亞微量池 | 200 μL | 水性，非水性 |
| H | 流動(dòng)池 | 100 μL | 水性，非水性 |
Zeta電位樣品池
用于水相測量的石墨電極電位樣品池， 每盒20個(gè)，每個(gè)樣品池體積為 100 μL。
有機(jī)溶劑電位樣品池，體積為100 μL
應(yīng)用：
蛋白質(zhì)的 Zeta 電位  在本簡報(bào)中介紹了 SZ-100 的測量數(shù)據(jù)，通過碳涂層電極電位槽，可有效地對蛋白質(zhì)的Zeta電位進(jìn)行測量。 | 聚電解質(zhì)的Zeta電位  聚乙烯亞胺 (PEI) 的Zeta 電位是使用 SZ-100 納米粒子分析儀進(jìn)行測量的。帶電聚合物即聚電解質(zhì)可以使用 SZ-100 進(jìn)行分析 | |
粘土Zeta電位測量在廢水處理中的應(yīng)用  在本說明中，分析了混凝劑選擇和濃度對懸浮粘土處理的影響 | 香精乳液的2種粒徑測量方法比較  現(xiàn)如今有兩種光學(xué)技術(shù)可用于表征乳液，即激光衍射法和動(dòng)態(tài)光散射法。 這兩種分析技術(shù)都具有快速可靠的優(yōu)點(diǎn)。 然而，由于分析原理的差異，對于同一種樣本進(jìn)行分析會獲得不同的結(jié)果 | |
利用Zeta電位優(yōu)化廢水處理  懸浮固體是工業(yè)和采礦作業(yè)廢水中的常見雜質(zhì)。為了使水清澈，常用方法是沉降處理。這些過程的持續(xù)時(shí)間與懸浮顆粒的粒度分布緊密相關(guān)。因此，如果可以使顆粒聚集，則沉降過程更短，處理操作更快且成本更低 | 通過DLS測定二氧化硅顆粒的尺寸  在本應(yīng)用說明中，分析了兩種不同二氧化硅分散體的粒徑，以證明 SZ-100 對此類材料的供應(yīng)商和用戶的實(shí)用性 | |
納米粒子分析  納米技術(shù)極其多樣化，從傳統(tǒng)器件物理的新擴(kuò)展到基于分子自組裝的全新方法，再到開發(fā)具有納米級尺寸的新材料。與宏觀尺度相比，縮小到納米尺度的材料可以表現(xiàn)出不同的特性，從而實(shí)現(xiàn)獨(dú)特的應(yīng)用 |