3D可視化與定量分析
為您的研究釋放一個新的水平的圖像可視化和分析。看到您的3D/4D卷在驚人的細節或記錄復雜的運動與內置的電影制作。
查看tb大小的卷
切片通過層和看到對象
直接測量或使用分割
使用熟悉的工具處理復雜的樣品
除了顯微鏡技術用于掃描電鏡成像到一般的3D圖像堆棧,FIB-SEM,聚焦離子束,是半導體工業中使用的另一種技術。
通過FIB-SEM成像,可以渲染和查看大型3D圖像數據集
應用:
金屬間腐蝕(IMC)分析
3D可視化與定量分析
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除了顯微鏡技術用于掃描電鏡成像到一般的3D圖像堆棧,FIB-SEM,聚焦離子束,是半導體工業中使用的另一種技術。
通過FIB-SEM成像,可以渲染和查看大型3D圖像數據集
應用:
金屬間腐蝕(IMC)分析