發(fā)布時(shí)間：2023-02-01 07:05:44
使皮秒級(jí)光子檢測(cè)變得更容易。PPD系列是一系列小型化的單光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器，包含所有必要的電子器件，可以實(shí)現(xiàn)皮秒精度檢測(cè)單光子。事業(yè)部:科學(xué)儀器產(chǎn)品分類:熒光光譜儀制造商:HORIBA Scientific概要：每個(gè)模塊都包含一個(gè)具有快速上升時(shí)間的光電倍增管（PMT）、GHz前置放大器、恒定分?jǐn)?shù)鑒別器（CFD）、穩(wěn)壓
PPD系列是一系列小型化的單光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器，包含所有必要的電子器件，可以實(shí)現(xiàn)皮秒精度檢測(cè)單光子。
每個(gè)模塊都包含一個(gè)具有快速上升時(shí)間的光電倍增管（PMT）、GHz前置放大器、恒定分?jǐn)?shù)鑒別器（CFD）、穩(wěn)壓電源以及在冷卻型檢測(cè)器中的電制冷器--所有這些都封裝在緊湊、完全集成和工廠優(yōu)化的裝置中。
PPD系列以合理的價(jià)格提供超高的時(shí)間分辨率。 當(dāng)用于時(shí)間分辨的熒光應(yīng)用研究時(shí)，可測(cè)試短至20ps的壽命。 此外，與一些更昂貴的光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器不同，PPD可實(shí)現(xiàn)超高的計(jì)數(shù)率下不失真。這使得PPD不僅是一個(gè)理想的時(shí)間分辨檢測(cè)器，而且還適用于磷光和一般光譜應(yīng)用，可在大多數(shù)應(yīng)用領(lǐng)域中實(shí)現(xiàn)高性能。
PPD的電路板被安置在一個(gè)精密研磨的鍍鎳外殼中，以提供超高水平的電磁屏蔽。通過一個(gè)便于安裝且提供光密封的圓形卡口進(jìn)行光學(xué)耦合。
同時(shí)提供TTL兼容和NIM兼容的信號(hào)輸出，以及一個(gè)信號(hào)輸入，允許在需要時(shí)禁用高壓，例如，當(dāng)PMT可能暴露在環(huán)境光下時(shí)，可進(jìn)行保護(hù)。
TTL輸出可以連接到通用的計(jì)數(shù)器/定時(shí)器上，而NIM輸出則與TCSPC系統(tǒng)兼容。
三種型號(hào)PPD可選，具有不同的光譜響應(yīng)范圍。(見技術(shù)參數(shù)表。）PPD-850和PPD-900版本具有擴(kuò)展近紅外區(qū)域靈敏度，并利用電制冷以減少暗噪聲。 這兩個(gè)版本都包括DPS-1電源模塊。 未冷卻的PPD-650版本只需要15V電壓， DPS-1作為可選電源提供。
PPD是對(duì)仍然使用側(cè)窗（如R1527）和線性聚焦（如XP2020Q）的光電倍增管的現(xiàn)有熒光壽命測(cè)試系統(tǒng)的理想改造，而且比SPAD（固態(tài)）檢測(cè)器具有更寬泛的應(yīng)用，因?yàn)榛钚詸z測(cè)面積大幾千倍
應(yīng)用包括：
時(shí)間分辨光譜測(cè)試
化學(xué)發(fā)光檢測(cè)
生物發(fā)光檢測(cè)
單分子檢測(cè)
光子相關(guān)光譜學(xué)
激光雷達(dá)
顆粒大小檢測(cè)
適應(yīng)性光學(xué)
顯微鏡
通用的光子計(jì)數(shù)和低光照度檢測(cè)
規(guī)格和外觀如有變化，恕不另行通知
應(yīng)用包括：
時(shí)間分辨光譜測(cè)試
化學(xué)發(fā)光檢測(cè)
生物發(fā)光檢測(cè)
單分子檢測(cè)
光子相關(guān)光譜學(xué)
激光雷達(dá)
顆粒大小檢測(cè)
適應(yīng)性光學(xué)
顯微鏡
通用的光子計(jì)數(shù)和低光照度檢測(cè)
Nanosizer? - 用于單壁碳納米管激發(fā)-發(fā)射三維矩陣圖譜的模擬和分析
Origin? Pro 8 的Nanosizer?簡(jiǎn)化了單壁碳納米管激發(fā)-發(fā)射三維圖譜的模擬和分析過程。Nanosizer與我們的Nanolog熒光光譜儀一起使用，使用具有專利技術(shù)的雙卷積算法，專門為單壁碳納米管手性和直徑的分析而設(shè)計(jì)。
Nanosizer? 會(huì)進(jìn)行SWNT近紅外激發(fā)-發(fā)射熒光光譜數(shù)據(jù)模擬，同時(shí)與所測(cè)實(shí)際數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。根據(jù)內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù)，Nanosizer?可以迅速將特定的峰值定義到特定的SWNT（n,m）結(jié)構(gòu)，還可生成螺旋結(jié)構(gòu)圖。同時(shí)，Nanosizer?大大簡(jiǎn)化了SWNT的FRET研究、長(zhǎng)度分布分析和納米管純化分析。除此之外，Nanosizer?還可提供適合支持未來ISO和ASTM標(biāo)準(zhǔn)的平臺(tái)，用于識(shí)別和提純半導(dǎo)體的SWNTs。
完美用于SWNT中的FRET、長(zhǎng)度分布分析和純化應(yīng)用分析
高效的區(qū)域選擇和初始模型參數(shù)化
峰數(shù)量幾乎無限制
峰值參數(shù)的全局鏈接和固定
所有模型峰值參數(shù)的全面約束
快速模型參數(shù)化
實(shí)現(xiàn)多種二維分析光譜圖形狀：高斯、洛倫茲和Voigt卷積
殘差統(tǒng)計(jì)加權(quán)
全功能的擬合峰參數(shù)統(tǒng)計(jì)分析
擬合結(jié)果和殘差的圖形化和表格化顯示
以能量（cm-1，eV）或波長(zhǎng)（nm）為單位的擬合數(shù)據(jù)
將峰值參數(shù)與用戶可編輯的庫(kù)（包含螺旋角、直徑和(n,m)分布圖和表格）進(jìn)行比較
為ISO和ASTM標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體SWNT識(shí)別/定量
